更新時間:2025-02-08
變頻抗幹擾介質損耗測試儀(yi) 廠家,用於(yu) 現場抗幹擾介損測量,或試驗室精密介損測量。儀(yi) 器為(wei) 一體(ti) 化結構,內(nei) 置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。采用變頻抗幹擾和傅立葉變換數字濾波技術,全自動智能化測量,強幹擾下測量數據非常穩定。測量結果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。
免費谘詢:0514-88774858
品牌 | 中悅電氣 | 產地 | 國產 |
---|---|---|---|
加工定製 | 是 |
變頻抗幹擾介質損耗測試儀(yi) 廠家
產(chan) 品簡介:
介質損耗測試儀(yi) 用於(yu) 現場抗幹擾介損測量,或試驗室精密介損測量。儀(yi) 器為(wei) 一體(ti) 化結構,內(nei) 置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。采用變頻抗幹擾和傅立葉變換數字濾波技術,全自動智能化測量,強幹擾下測量數據非常穩定。測量結果由大屏幕液晶顯示,自帶微型打印機可打印輸出。
工作原理:
在交流電壓作用下,電介質要消耗部分電能,這部分電能將轉變為(wei) 熱能產(chan) 生損耗。這種能量損耗叫做電介質的損耗。當電介質上施加交流電壓時,電介質中的電壓和電流間存在相角差Ψ,Ψ的餘(yu) 角δ稱為(wei) 介質損耗角,δ的正切tgδ稱為(wei) 介質損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質損耗的參數。儀(yi) 器測量線路包括一標準回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖1所示。標準回路由內(nei) 置高穩定度標準電容器與(yu) 測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與(yu) 前置放大器和A/D轉換器組成。通過測量電路分別測得標準回路電流與(yu) 被試回路電流幅值及其相位等,再由單片機運用數字化實時采集方法,通過矢量運算便可得出試品的電容值和介質損耗正切值。儀(yi) 器內(nei) 部已經采用了抗幹擾措施,保證在外電場幹擾下準確測量。
產(chan) 品特點:
1、超大液晶中文顯示
操作簡單,儀(yi) 器配備了的全觸摸液晶顯示屏,超大全觸摸操作界麵,每過程都非常清晰明了,操作人員不需要額外的專(zhuan) 業(ye) 培訓就能使用。輕輕點擊一下就能完成整個(ge) 過程的測量,是目前非常理想的智能型介損測量設備。
2、海量存儲(chu) 數據
儀(yi) 器內(nei) 部配備有日曆芯片和大容量存儲(chu) 器,保存數據200組,能將檢測結果按時間順序保存,隨時可以查看曆史記錄,並可以打印輸出。
3、科學先進的數據管理
儀(yi) 器數據可以通過U盤導出,可在任意一台PC機上通過我公司軟件,查看和管理數據。
4、多種測試模式
儀(yi) 器使用內(nei) 高壓、內(nei) 標準的方式測試,正接法、反接法、自激法。
5、CVT測試一步到位
該儀(yi) 器還可以測試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量。
6、不拆高壓引線測量CVT
儀(yi) 器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質損耗值和電容值。
7、CVT反接屏蔽法測量C0
儀(yi) 器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質損耗值和電容值。
技術參數:
1、高壓輸出: 0.5 ~10kV,
每一檔增加500V,共有二十檔,容 量:1500VA
2、準 確 度: tgδ: ±(讀數*1.5%+0.06%)
Cx: ±(讀數*1.5%+5PF)
3、分 辨 率: tgδ:0.001% Cx:0.001pF
4、測量範圍: 0.001% < tgδ <
內(nei) 施高壓:3pF~60000pF/10kV 60pF~1µF/0.5kV
外施高壓:3pF~1.5µF/10kV 60pF~30µF/0.5kV
電 源: AC 220V士10% 50士1Hz
測量方式:a.單頻:45Hz、50Hz、55Hz、60Hz、65Hz
b.異頻:45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻
7、諧波適應: ≤3%
8、使用條件: -15℃-50℃ 相對濕度<80%
9、外型尺寸: 460(L)×345(W)×345(H)
10、重 量: 35 kg
注意事項:
1、抗幹擾介質損耗測試儀(yi) BS-9000D型必須可靠接地,否則會(hui) 使測量結果出現明顯偏差和重複性偏差。
2、用QS1做對比試驗時,請留意QS1的tgδ誤差±0.3%,BR16為(wei) ±0.1%。
3、請保持接地點良好的導電性,現場試驗時應使接線各個(ge) 連接點(如掛鉤等)接觸良好,以保證測量數據的穩定性。
4、介損測量受試驗方法影響較大,應注意試驗方法對測量結果的影響。
5、試驗室用標準損耗器鑒定時,應使用全屏蔽的兩(liang) 頭插頭的電纜連接,否則未屏蔽的導線的附加電容會(hui) 引起誤差。
6、空氣濕度較大時會(hui) 使試品表麵受潮,介損值會(hui) 異常增大且不穩定,必要時可使用屏蔽環吸收試品表麵泄漏電流。
變頻抗幹擾介質損耗測試儀(yi) 廠家